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      F-SLGS1040 雙棱鏡干涉實驗

      F-SLGS1040 雙棱鏡干涉實驗
      • 調整光路,觀察分波面干涉的干涉條紋,體會分波面的干涉原理和干涉理論。
      • 測量干涉條紋的間隔,推算激光波長。
      • 光學實驗導軌:1200mm。
      • 半導體激光器:650nm, 4mW。
      • 透鏡(帶框): f=100mm,f=60mm,通光直徑:38mm。
      • 激光功率指示計:三位半數字表頭,量程:200μW, 2mW, 20mW, 200mW,可調檔。最小分辨率0.1u W。
      • 大一維位移架+12檔光探頭:位移范圍100mm,精度0.02mm,光欄直徑:0.5、1、2、3、4、6mm。光欄寬度:0.2、0.3、0.4、0.8、1.2mm。
      • 一維可調導軌滑塊:調整范圍:10mm。
       
              采用高穩定度和長相干性的半導體激光器作為光源,以帶有小孔和狹縫光欄的功率計作為光強分布的探測器,與傳統的讀數顯微鏡方案相比,本實驗采用的方案更加客觀準確。
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